為什么ICP-AES光譜儀定量分析存在準(zhǔn)確度的問(wèn)題，這是因?yàn)槎糠治鍪且环N測(cè)量，而作為任何測(cè)骨，都一定帶有誤差。準(zhǔn)確度和誤差實(shí)際上是對(duì)同一個(gè)問(wèn)題的兩種說(shuō)法，誤差，即準(zhǔn)確度高，誤差，即準(zhǔn)確度低。表示分析誤差的方法有兩種：一是誤差；二是相對(duì)誤差。我們從實(shí)際例子即能區(qū)分兩種誤差，例如，高速鋼中鎢或者不銹鋼中鉻含量都在18%左右，爐前分析的誤差約是士0.20%，誤差就是±0.20%，通常以o表示，相對(duì)誤差則為（±0/CGone)×100%，其中Come為含量。因此上例的相對(duì)誤差按（±0.2/18）×100%，約為±1.1%，如分析碳素鋼中錳含量范圍0.17%~0.37%，分析的誤差士0.005%，相對(duì)誤差±1.35%。再如分析某元素的含量0.003%，誤差土0.0005%，相對(duì)誤差16.6%。這些例子說(shuō)明光譜分析儀的一個(gè)固有規(guī)律，即相對(duì)誤差隨含量降低而增。

　　分析結(jié)果與實(shí)際含量之間的偏離就是誤差。分析結(jié)果的誤差可以來(lái)源于幾個(gè)方面，以光譜分析而論，可以來(lái)源標(biāo)準(zhǔn)樣品及分析樣品的成分分布的不均勻，以及標(biāo)準(zhǔn)樣品及分析樣品性質(zhì)不一致，也可以來(lái)源光源激發(fā)的不穩(wěn)定，也可以來(lái)源于分光系統(tǒng)、出射狹縫的偏離。正常操作和儀器工作狀態(tài)下引起的誤差原因，總起來(lái)可歸為兩類(lèi)：系統(tǒng)誤差和偶然誤差（或稱(chēng)隨機(jī)誤差）。兩者如何區(qū)分?系統(tǒng)誤差偏向一方的，或者是經(jīng)常偏高，或者經(jīng)常偏低，上面提到的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品的性質(zhì)不一致，導(dǎo)致分析結(jié)果具有系統(tǒng)誤差，采用一致性質(zhì)的樣品，即能消除這類(lèi)誤差。偶然誤差不是偏向一方的，正的誤差和負(fù)的誤差有同樣出現(xiàn)的機(jī)會(huì)。